本發(fā)明提供一種LED器件性能退化的檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)。一種LED器件性能退化的檢測(cè)方法,其中,對(duì)以恒定電壓或恒定電流應(yīng)力驅(qū)動(dòng)的LED器件,也即老化中的LED器件,在恒定電壓或恒定電流基礎(chǔ)上引入高頻交流小信號(hào),頻率大于1MHz,該交流高頻小信號(hào)的引入不影響LED器件的光譜和空間光強(qiáng)分布;或者,以高頻的脈沖電流代替恒定電流驅(qū)動(dòng)LED器件,脈沖電流的有效電流水平記為驅(qū)動(dòng)電流應(yīng)力水平;然后,采用光電探測(cè)器探測(cè)LED器件發(fā)光,將光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào),進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,在線或離線分析LED器件的頻率響應(yīng)特性,根據(jù)老化中的頻率響應(yīng)特性參數(shù)相對(duì)于未老化時(shí)的變化,判斷LED器件中漏電流水平,以有效便捷地檢測(cè)LED器件的退化,在LED器件失效前進(jìn)行預(yù)警。
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“LED器件性能退化的檢測(cè)方法及檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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