一種LED晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)的針偏檢測(cè)系統(tǒng)及方法,包含一點(diǎn)測(cè)機(jī)及一計(jì)數(shù)顯示裝置,其中該點(diǎn)測(cè)機(jī)至少具有一用以置放至少一片LED晶圓的承載位移裝置及兩支用以與該LED晶圓上該些LED晶粒電氣接觸的測(cè)試探針,而該計(jì)數(shù)顯示裝置與該兩支測(cè)試探針電性相接,故能夠形成一針偏檢測(cè)回路,用以計(jì)數(shù)顯示該兩支測(cè)試探針于該LED晶圓上的測(cè)試探針偏移次數(shù);因此該兩支測(cè)試探針能夠依序點(diǎn)測(cè)LED晶圓上的該些LED晶粒,在持續(xù)位移點(diǎn)測(cè)的情況下,能夠藉由檢測(cè)該兩支測(cè)試探針是否與該LED晶粒接觸范圍形成導(dǎo)通回路,并持續(xù)累積未接觸導(dǎo)通的次數(shù),以作為探針偏移的總次數(shù)。本發(fā)明能夠?qū)l(fā)生針偏的次數(shù)進(jìn)行累積計(jì)數(shù)與顯示針偏次數(shù),以輔助機(jī)臺(tái)作業(yè)人員進(jìn)行針偏位移失效總數(shù)的統(tǒng)計(jì)。