本實用新型公開了一種元器件綜合
檢測儀,包括機殼,所述機殼一側(cè)設(shè)有測試面板,所述測試面板頂部一端設(shè)有顯示電源和工作電源,所述測試面板一端設(shè)有綜合信號、模擬輸入、模擬輸出和模擬信號,所述測試面板中部設(shè)有測試通道,且測試通道共設(shè)有三個,所述測試面板另一端設(shè)有測試電源和測試信號燈。元器件綜合檢測儀主機內(nèi)部的硬件電路大量采用CPLD可編程高集成技術(shù),具有80路數(shù)字通道/160路VI曲線通道/28路模擬功能通道,多路可擴展端子通道,配合系統(tǒng)軟件檢測程序。能夠針對元器件特定失效模式專門構(gòu)建具體型號的篩選模型,從而建立大量元器件篩選庫,對各種電子元器件提供有效便捷的檢測手段。
聲明:
“元器件綜合檢測儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)