本發(fā)明適用于測量技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種電子設備的老化檢測方法、系統(tǒng)、介質(zhì)和設備,其中,電子設備的老化檢測方法,包括如下步驟:將標準件與電子設備連接,所述電子設備上還設置有多個元器件,所述標準件用于對所述電子設備進行老化檢測;根據(jù)所述標準件的失效率曲線,獲取當前時刻所述標準件對應的理論值和實際測量值;根據(jù)當前時刻所述標準件的理論值和實際測量值之間的標準差值,來判斷所述電子設備是否老化。通過本申請的方法,不需要獲取電子設備中的各元器件大量的參數(shù)來判斷電子設備是否老化,僅僅需要一個標準件即可判斷,很大程度上簡化了電子設備的檢修流程,而且不需要改變電子設備的原有電路。
聲明:
“電子設備的老化檢測方法、系統(tǒng)、介質(zhì)和設備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)