本發(fā)明公開(kāi)了一種觸控檢測(cè)和反饋系統(tǒng)及方法,其中,觸控檢測(cè)和反饋系統(tǒng)包括:殼體、超聲波發(fā)射端、超聲波接收端、反饋輸出元件以及主控單元,所述殼體內(nèi)設(shè)有安裝腔,且所述安裝腔為封閉空間;所述超聲波發(fā)射端、所述超聲波接收端以及所述反饋輸出元件均設(shè)于所述安裝腔內(nèi);所述超聲波發(fā)射端、所述超聲波接收端以及所述反饋輸出元件分別與所述主控單元電性連接。本發(fā)明解決了電容式按鍵的誤觸問(wèn)題以及壓電式按鍵受限于形變因素導(dǎo)致的靈敏度下降甚至失效的風(fēng)險(xiǎn),實(shí)現(xiàn)了對(duì)無(wú)觸摸、輕觸、按壓等多種觸控操作的識(shí)別,并可輸出針對(duì)不同觸控力度的多級(jí)反饋信號(hào),并通過(guò)觸摸檢測(cè)和振動(dòng)反饋不同時(shí)進(jìn)行的方法降低振動(dòng)反饋元件對(duì)觸摸檢測(cè)元件造成的影響。
聲明:
“觸控檢測(cè)和反饋系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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