根據(jù)本發(fā)明的閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法包括:初始測(cè)試步驟,用于使閃存通過晶圓級(jí)測(cè)試以及封裝級(jí)測(cè)試;應(yīng)用步驟,用于將閃存應(yīng)用至特定應(yīng)用領(lǐng)域;第一判斷步驟,用于判斷是否存在擦除動(dòng)作;其中,當(dāng)?shù)谝慌袛嗖襟E中判斷存在擦除動(dòng)作時(shí)讀取整個(gè)擦除區(qū)域;在讀取整個(gè)擦除區(qū)域之后執(zhí)行第二判斷步驟,用于判斷是否存在讀取失效。當(dāng)?shù)诙袛嗖襟E中判斷存在讀取失效時(shí)執(zhí)行用于判斷是否存在行失效的第三判斷步驟。當(dāng)?shù)谌袛嗖襟E中判斷存在行失效時(shí)執(zhí)行用于判斷冗余扇區(qū)是否失效的第四判斷步驟。當(dāng)?shù)谒呐袛嗖襟E中判斷冗余扇區(qū)失效時(shí)利用冗余扇區(qū)來進(jìn)行修復(fù)。
聲明:
“閃存錯(cuò)誤檢查及糾正修復(fù)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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