一種存儲(chǔ)器壽命測試算法,存儲(chǔ)器壽命測試程序中加入計(jì)算器單元,根據(jù)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)手冊設(shè)定額定壽命上限,再設(shè)定至少2倍額定壽命上限的極限壽命上限;如讀寫次數(shù)大于極限壽命上限,則判定存儲(chǔ)器失效;如讀寫次數(shù)未超過極限壽命上限,則測試極限壽命上限加一次測試次數(shù)的測試總次數(shù),然后連續(xù)對存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)區(qū)域進(jìn)行讀寫操作,每次寫入的固定長度的數(shù)據(jù)都不同,并記錄總的操作次數(shù)、總的寫入錯(cuò)誤次數(shù)、總的讀取錯(cuò)誤次數(shù),測試總次數(shù)測試完成后,判定讀寫錯(cuò)誤次數(shù)是否超過測試總次數(shù)的60%,如超過,判定存儲(chǔ)器失效;如未超過,判定存儲(chǔ)器未失效;本發(fā)明為批量供貨的存儲(chǔ)器壽命的檢驗(yàn),電能表的數(shù)據(jù)可靠性測試和表計(jì)存儲(chǔ)算法提供了可靠、有力的依據(jù)。
聲明:
“存儲(chǔ)器壽命測試算法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)