本發(fā)明公開了用于監(jiān)測柱色譜性能的方法。這些方法可以包括獲取由色譜系統(tǒng)在樣品純化和/或分離期間生成的一條或多條色譜圖紫外(UV)跡線;以及用正交偏最小二乘法(OPLS)模型分析獲取的一條或多條色譜圖UV跡線,從而允許在柱失效之前檢測到柱劣化并且定量分析該一條或多條色譜圖UV跡線中的UV信號。
聲明:
“通過正交偏最小二乘法對色譜性能進行紫外線監(jiān)測” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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