本發(fā)明提出一種內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)、老化測試裝置及相應的耐力測試方法,內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)包括一供電端、一接地端、一時鐘端以及一輸出端;所述內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)通過所述供電端、接地端和時鐘端啟動,并對一
芯片進行耐力測試,并通過所述輸出端輸出耐力測試結(jié)果。老化測試裝置包括整機測試板、安置在所述整機測試板上的至少一組芯片、集成在每一芯片中的內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)、接收內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)輸出的耐力測試結(jié)果的解碼器以及根據(jù)解碼器輸出的解碼結(jié)果以確定不能實現(xiàn)耐力測試的芯片的終端測試設備,以解決每批次進行的耐力測試樣品數(shù)量少、耐力測試周期過長,且無法自動判斷芯片樣品讀取動能失效以及測試成本昂貴的問題。
聲明:
“內(nèi)建耐力測試系統(tǒng)、老化測試裝置及相應的耐力測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)