一種可編程邏輯器件封裝模塊的安全性測試方法和系統(tǒng),方法包括以下步驟:針對所述封裝模塊的每個功能,采用軟件故障樹分析法和軟件失效模式與影響分析法進行故障分析,得到每個功能對應(yīng)的綜合故障樹;以每個所述綜合故障樹中的最小割集為約束條件構(gòu)建測試用例,所有測試用例構(gòu)成測試用例集合;采用遺傳算法從所述測試用例集合中選擇最優(yōu)測試用例組,所述最優(yōu)測試用例組對所述可編程邏輯器件的封裝模塊進行測試,得到所述可編程邏輯器件的封裝模塊的安全性測試結(jié)果。
聲明:
“可編程邏輯器件封裝模塊的安全性測試方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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