本發(fā)明公開了紫外發(fā)光二極管性能退化預(yù)測模型構(gòu)建及壽命預(yù)測方法，屬于紫外發(fā)光二極管壽命預(yù)測領(lǐng)域，模型構(gòu)建方法包括：獲取紫外發(fā)光二極管老化試驗(yàn)中多個(gè)時(shí)間點(diǎn)測試指標(biāo)構(gòu)成的原始時(shí)間序列測試數(shù)據(jù)；根據(jù)原始時(shí)間序列測試數(shù)據(jù)訓(xùn)練基于循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)改進(jìn)的長短期記憶網(wǎng)絡(luò)，得到紫外發(fā)光二極管性能退化預(yù)測模型；長短期記憶網(wǎng)絡(luò)的輸入為原始時(shí)間序列測試數(shù)據(jù)中多個(gè)連續(xù)時(shí)間點(diǎn)測試指標(biāo)，輸出為相鄰的后一時(shí)間點(diǎn)測試指標(biāo)。壽命預(yù)測方法為：根據(jù)原始時(shí)間序列測試數(shù)據(jù)和上述預(yù)測模型，獲得后續(xù)時(shí)間的指標(biāo)退化數(shù)據(jù)；再根據(jù)預(yù)設(shè)的失效閾值確定紫外發(fā)光二極管預(yù)測失效壽命。本發(fā)明能對具有時(shí)間序列的衰減數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，具有高精度、高可靠、高速度的特點(diǎn)。