外部測試裝置系被使用以仿造一內(nèi)部BIST測試,因此使獲取或產(chǎn)生詳細測試結(jié)果為可能。通過在測試時間實時仿真BIST測試序列,外部測試器可能監(jiān)控自BIST之一輸出且決定失敗發(fā)生的確實位置。外部測試器可能產(chǎn)生一位失敗映像指示是否每一內(nèi)存位置通過或未通過BIST測試。
聲明:
“內(nèi)建自行測試系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)