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基于器件端的不良光器件電容元件漏電測試系統(tǒng)及測試方法

1142   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:15
本發(fā)明提供一種基于器件端的不良光器件電容元件漏電測試系統(tǒng),包括:電壓表(3),電流表(7),可變電阻集以及接收光器件,其中電流表與電壓表一端均接地,電流表的另一端與可變電阻集連接,可變電阻集另一端與接收光器件連接,接收光器件包括串聯(lián)連接的VCC電容(2)、跨阻放大器(1)及RSSI電容(10)和探測器(4),RSSI電容一端與可變電阻集連接,VCC電容一端接地,另一端分別連接跨阻放大器以及電壓表連接,探測器一端與跨阻放大器連接;可變電阻集為電阻形成的串聯(lián)或并聯(lián)電路,可變電阻集的電阻可調(diào),針對不同產(chǎn)品對匹配電阻要求不同,通過調(diào)節(jié)電壓值以及電流值的變化判斷接收光器件內(nèi)是否發(fā)生電容失效。還公開了對應(yīng)的測試方法。
聲明:
“基于器件端的不良光器件電容元件漏電測試系統(tǒng)及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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