本發(fā)明公開一種存儲器測試方法、裝置、存儲器、設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)。所述方法包括:對存儲器中的各存儲單元進(jìn)行保持時間測試,以分別獲得各所述存儲單元的保持時間;確定本次獲得的各所述存儲單元的保持時間是否不小于預(yù)設(shè)的時間規(guī)格;當(dāng)各所述存儲單元的保持時間不小于所述時間規(guī)格時,統(tǒng)計已執(zhí)行的保持時間測試的當(dāng)前測試次數(shù);當(dāng)所述當(dāng)前測試次數(shù)小于預(yù)設(shè)測試次數(shù)時,進(jìn)入下一次所述保持時間測試。根據(jù)本發(fā)明提供的存儲器測試方法,可精確地檢測到失效存儲單元,增大了存儲器測試的覆蓋率,降低了后續(xù)封裝測試過程中存儲單元發(fā)生邊緣失效的風(fēng)險,保證了存儲器的可靠性。
聲明:
“存儲器測試方法、裝置、存儲器、設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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