本發(fā)明公開了一種電路板可靠性預(yù)測方法以及電路板應(yīng)力加速壽命實(shí)驗(yàn)方法,采集電路板圖像;利用元器件模型對電路板圖像中的電子元器件進(jìn)行檢測,若檢測出所有電子元器件的種類,則保存電子元器件的種類和數(shù)目,若檢測出未知電子元器件,則補(bǔ)充該未知電子元器件的圖片到元器件模型的樣本集中,同時(shí)按照數(shù)據(jù)庫列表格式補(bǔ)充新的元器件的參數(shù),重新訓(xùn)練元器件模型,得到新的元器件模型,直到檢測出所有電子元器件的種類;根據(jù)保存的電子元器件的種類和數(shù)目以及電子元器件的通用失效率,計(jì)算電路板的可靠性參數(shù)。優(yōu)點(diǎn):通過元器件模型自動(dòng)獲取電路板上影響可靠性指標(biāo)的元器件種類和數(shù)量,能夠快速直接完成可靠性預(yù)測預(yù)測評估,實(shí)現(xiàn)可靠性試驗(yàn)參數(shù)推薦。
聲明:
“電路板可靠性預(yù)測方法以及電路板應(yīng)力加速壽命實(shí)驗(yàn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)