本發(fā)明公開了可以實現(xiàn)溫控的集LED漏電流與抗靜電能力測試于一體的檢測方案。本發(fā)明采用TLP測試系統(tǒng)測量漏電流,并引入恒溫鼓風(fēng)干燥箱控制箱實現(xiàn)溫控調(diào)節(jié),同時消除了空氣中的濕度可能對靜電測試結(jié)果的影響。采用本發(fā)明所述方法,既能利用TLP模型測量各個溫度下通過LED的漏電流,反映出LED
芯片的質(zhì)量高低,又可以產(chǎn)生幅度連續(xù)可調(diào)的矩形短脈沖進行LED芯片的抗靜電能力檢測,說明器件存在的一些潛在失效機理。
聲明:
“發(fā)光二極管漏電流測試方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)