本發(fā)明公開了一種緩存鎖定功能的測試方法和測試裝置,所述方法包括:向緩存中讀入小于緩存容量的第一數(shù)據(jù),并鎖定所述第一數(shù)據(jù)在該緩存中;向緩存中讀入大于緩存容量的第二數(shù)據(jù),并確定實際讀入所述緩存的第三數(shù)據(jù);向緩存中讀入大于緩存容量的第四數(shù)據(jù),并確定實際讀入所述緩存的第五數(shù)據(jù);根據(jù)所述第五數(shù)據(jù)以及所述第一數(shù)據(jù),確定判定該緩存鎖定功能是否失效。本發(fā)明通過將第一數(shù)據(jù)鎖定在緩存中,通過其他的數(shù)據(jù)來擠兌緩存中的鎖定數(shù)據(jù),從而來檢測該緩存鎖定的功能,以用來測試被鎖住的數(shù)據(jù)是否會被新數(shù)據(jù)擠出緩存。
聲明:
“緩存鎖定功能的測試方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)