本申請涉及一種存儲系統(tǒng)的測試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)。該方法包括:獲取存儲系統(tǒng)的失效模式組合庫,失效模式組合庫包含存儲系統(tǒng)對應(yīng)的所有的可執(zhí)行的失效模式組合,每個(gè)失效模式組合中包含至少兩種可疊加發(fā)生的失效模式;從失效模式組合庫中隨機(jī)選取一種待測試的失效模式組合為目標(biāo)失效模式組合;根據(jù)目標(biāo)失效模式組合對存儲系統(tǒng)進(jìn)行測試。采用本方法能夠快速高效地驗(yàn)證存儲系統(tǒng)的可靠性能力,發(fā)現(xiàn)存儲系統(tǒng)可靠性問題,盡早地發(fā)現(xiàn)可靠性缺陷。
聲明:
“存儲系統(tǒng)的測試方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)