本發(fā)明提供一種塑封光電耦合器貯存壽命預(yù)測方法,它有以下七個(gè)步驟:一、確定敏感參數(shù);二、明確物理加速模型;三、確定保持失效機(jī)理不變的溫度應(yīng)力;四、開展加速壽命試驗(yàn);五、試驗(yàn)數(shù)據(jù)預(yù)處理;六、估計(jì)物理模型中參數(shù)值;七、計(jì)算貯存應(yīng)力下,塑封光耦的壽命。本發(fā)明構(gòu)思新穎,程序簡約,可計(jì)算貯存狀態(tài)下塑封光耦的壽命,反應(yīng)失效機(jī)理,可節(jié)約成本,解決傳統(tǒng)壽命預(yù)測不能保證失效機(jī)理一致的問題,它在元器件貯存壽命評(píng)價(jià)領(lǐng)域有廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“塑封光電耦合器貯存壽命預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)