本發(fā)明公開(kāi)了一種基于開(kāi)爾文發(fā)射極電壓變化的IGBT健康監(jiān)測(cè)方法，其包括以下步驟：S1、搭建IGBT開(kāi)爾文發(fā)射極與功率發(fā)射極間的電壓VeE的數(shù)據(jù)采集平臺(tái)；S2、采集與目標(biāo)IGBT同規(guī)格的IGBT在不同健康狀況下關(guān)斷過(guò)程中的VeE數(shù)據(jù)；S3、根據(jù)采集到的數(shù)據(jù)建立老化數(shù)據(jù)庫(kù)；S4、監(jiān)測(cè)目標(biāo)IGBT關(guān)斷時(shí)VeE第一階段的峰值電壓并與老化數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行比對(duì)，判斷其是否超過(guò)失效閾值電壓，若是則判定目標(biāo)IGBT失效，否則判定目標(biāo)IGBT有效，完成健康監(jiān)測(cè)。由于本發(fā)明所使用的老化特征參數(shù)VeE主要由IGBT中的寄生參數(shù)決定，其受結(jié)溫影響小。因此，本發(fā)明有效提高了電力電子器件健康評(píng)估系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。