一種測(cè)試被測(cè)試存儲(chǔ)器的測(cè)試裝置,該被測(cè)試存儲(chǔ)器具有復(fù)數(shù)塊和修復(fù)用列;該測(cè)試裝置具有:測(cè)試部;標(biāo)志存儲(chǔ)器,其存儲(chǔ)表示各列是否良好的標(biāo)志;計(jì)數(shù)存儲(chǔ)器,其存儲(chǔ)各列的不良?jí)K數(shù);失效寫入部,其以至少滿足測(cè)試結(jié)果為不良,以及對(duì)應(yīng)的列的標(biāo)志存儲(chǔ)器內(nèi)的標(biāo)志顯示不良中的某一方為條件,將顯示不良的標(biāo)志寫入標(biāo)志存儲(chǔ)器;計(jì)數(shù)部,其以測(cè)試結(jié)果為不良,且對(duì)于對(duì)應(yīng)的列,標(biāo)志存儲(chǔ)器內(nèi)未存儲(chǔ)顯示不良的標(biāo)志為條件,累加對(duì)應(yīng)的列的計(jì)數(shù)存儲(chǔ)器的塊數(shù)量;選擇部,其根據(jù)各列的不良?jí)K數(shù),選擇應(yīng)置換為修復(fù)用列的列。