本發(fā)明公開一種用于電路板測試的針盤治具,其包括測試機(jī)臺(tái)面,其上設(shè)有至少一塊與測試主機(jī)連接的第一端子;和轉(zhuǎn)接模塊,其包括用于與第一端子電連接的第二端子、與第二端子電連接且用于與待測電路板電連接的測試針,和用于定位待測電路板的第一定位結(jié)構(gòu)。轉(zhuǎn)接模塊與測試機(jī)臺(tái)面通過設(shè)在其上的第一端子和第二端子插接的方式連接,連接方便快捷,不會(huì)出現(xiàn)導(dǎo)線失效導(dǎo)致無法測試電路板的問題;而且,可以通過第一定位結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)待測電路板與轉(zhuǎn)接模塊的快速定位,保證測試的準(zhǔn)確性;同時(shí),可以根據(jù)待測電路板的不同更換不同的轉(zhuǎn)接模塊,不同的轉(zhuǎn)接模塊均可通過第二端子與測試機(jī)臺(tái)面的第一端子實(shí)現(xiàn)快速插接,保持較高的電路板測試效率。
聲明:
“用于電路板測試的針盤治具” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)