本發(fā)明涉及一種精密儀器性能參數(shù)保持期預(yù)測(cè)方法和系統(tǒng),根據(jù)待測(cè)精密儀器樣品的原始性能參數(shù)計(jì)算所述待測(cè)精密儀器樣品的偽失效時(shí)間數(shù)據(jù),然后求解可靠性分布模型,最后根據(jù)求解的可靠性分布模型對(duì)所述待測(cè)精密儀器樣品的性能參數(shù)保持期進(jìn)行預(yù)測(cè),能夠有效提高對(duì)試驗(yàn)樣本的性能參數(shù)保持期的預(yù)測(cè)精確度,從而為加速退化試驗(yàn)提供準(zhǔn)確的先驗(yàn)信息。
聲明:
“精密儀器性能參數(shù)保持期預(yù)測(cè)方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)