本發(fā)明提供一種存儲單元可靠性的測試方法,所述存儲單元具有開啟擦除狀態(tài)的第一閾值電壓和開啟編程狀態(tài)的第二閾值電壓,其中,所述存儲單元可靠性的測試方法至少包括:預(yù)先設(shè)定一感知電壓;對所述存儲單元進(jìn)行擦除或編程操作,讀取所述存儲單元的當(dāng)前電壓;比較所述當(dāng)前電壓和所述感知電壓,根據(jù)比較結(jié)果確定所述存儲單元的當(dāng)前工作狀態(tài);判斷所述存儲單元的當(dāng)前工作狀態(tài)與其所受的操作是否相符;若是,判定所述存儲單元正常工作;若否,則判定所述存儲單元失效。本發(fā)明能夠通過測試存儲單元的工作狀態(tài),來測試存儲單元的可靠性,具有高精確度和較短的編程時間,方法簡單,能夠快速、精確評估存儲器產(chǎn)品的可靠性,同時節(jié)省了編程時間。
聲明:
“存儲單元可靠性的測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)