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利用調(diào)制激光進行強背景干擾下顆粒速度測量的裝置

935   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:24
本發(fā)明提出一種利用調(diào)制激光進行強背景干擾下顆粒速度測量的裝置,包括,激光光強調(diào)制系統(tǒng),用于根據(jù)調(diào)制頻率將激光調(diào)制成強度變化的激光;數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng),用于采集強度變化的激光照射顆粒時,顆粒對激光的散射信號,并對散射信號進行以所述調(diào)制頻率為中心的帶通濾波,根據(jù)帶通濾波后的散射信號得到顆粒的速度。本發(fā)明提出的適合強背景干擾下顆粒速度測量的裝置,可以解決顆粒速度測量過程中強背景噪音導(dǎo)致顆粒速度測量失效的問題。
聲明:
“利用調(diào)制激光進行強背景干擾下顆粒速度測量的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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