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用于混合集成電路壽命預(yù)計試驗的測試芯片及應(yīng)用

864   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 09:00:24
本發(fā)明公開了一種用于混合集成電路壽命預(yù)計試驗的測試芯片及應(yīng)用,包括基底,所述基底的中心區(qū)域設(shè)置有用于模擬芯片發(fā)熱的加熱PN結(jié),且所述加熱PN結(jié)還用于監(jiān)測芯片溫度;所述基底上還沿基底周向設(shè)置有若干組菊花鏈單元,每組所述菊花鏈單元包括兩個電連接的菊花鏈Pad,任意相鄰且不屬于同一組菊花鏈單元中的兩個菊花鏈Pad之間的距離相等。以不同工藝方式對該芯片進行組裝,可準確模擬混合集成電路各類應(yīng)用場景,通過對各類參數(shù)進行監(jiān)測,便可建立電路在工作過程中應(yīng)力條件與工作時間的失效物理模型,為定量評估各類表貼及鍵合界面退化可靠性提供方法,同時也為改進SMT及引線鍵合工藝、延長混合集成電路產(chǎn)品壽命提供依據(jù)。
聲明:
“用于混合集成電路壽命預(yù)計試驗的測試芯片及應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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