本發(fā)明公開的一種用于液體顆粒計數(shù)傳感器的壽命預測方法，屬于液體顆粒計數(shù)傳感器壽命預測領域。本發(fā)明以傳感器內狹縫面積的形變比作為衡量指標，開展非工作狀態(tài)和工作狀態(tài)下的加速退化試驗并收集指標的退化數(shù)據(jù)；根據(jù)試驗所得數(shù)據(jù)和試驗包含的使用、環(huán)境條件，建立液體顆粒計數(shù)傳感器在兩階段下退化率與影響因子之間的函數(shù)關系；建立基于Wiener隨機過程的兩階段退化模型，利用極大似然估計法進行參數(shù)估計，獲得參數(shù)的全局最優(yōu)解；根據(jù)液體顆粒計數(shù)傳感器的常規(guī)貯存溫度和工作額定流量條件，外推實際情況下非工作和工作兩狀態(tài)下的常規(guī)退化速率，進一步根據(jù)傳感器內部狹縫面積形變的失效閾值，實現(xiàn)對液體顆粒計數(shù)傳感器壽命與可靠性的預測。
聲明：
“用于液體顆粒計數(shù)傳感器的壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月25日 ~ 27日 
