本發(fā)明公開了一種基于SMART信息和深度學(xué)習(xí)的硬盤損壞預(yù)測(cè)方法及裝置，該方法包括：收集不同硬盤在不同時(shí)間段的SMART信息作為原始樣本數(shù)據(jù)，并從中選取靜態(tài)數(shù)據(jù)和時(shí)間序列數(shù)據(jù)兩類訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)；對(duì)訓(xùn)練樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行篩選，提取出與硬盤故障相關(guān)的有效參數(shù)集，并標(biāo)注得到標(biāo)注訓(xùn)練數(shù)據(jù)；分別構(gòu)建至少一個(gè)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型對(duì)標(biāo)注靜態(tài)數(shù)據(jù)和標(biāo)注時(shí)間序列數(shù)據(jù)進(jìn)行深度學(xué)習(xí)，得到相應(yīng)的優(yōu)化模型參數(shù)的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型；根據(jù)設(shè)定的定時(shí)策略獲取存儲(chǔ)系統(tǒng)中硬盤的SMART信息數(shù)據(jù)，提取有效參數(shù)集輸入神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型預(yù)測(cè)硬盤是否即將損壞。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確地在機(jī)械硬盤即將損壞之前及時(shí)發(fā)現(xiàn)，以便在硬盤失效之前及時(shí)更換，可大幅度提高數(shù)據(jù)中心的高可用性和數(shù)據(jù)安全性。