本發(fā)明提供了一種基于微元化物理模型的電纜壽命預測方法,將電纜試樣分別在90℃、110℃和130℃下進行熱老化實驗,在不同老化時間下取樣測量其斷裂伸長率保留率數值,再將實驗所得數據代入建模方程,得到不同的t0和v值,對t0和v值進行數據擬合,以確定最佳擬合值。對三組不同溫度下對應的t0和v值再進行數據擬合,分別得到t0和v關于溫度的函數關系,回帶建模方程,得到斷裂伸長保留率關于溫度和時間的函數。本發(fā)明將失效標準的力學參數斷裂伸長率保留率作為時間和溫度相關的函數,一方面可以代入斷裂伸長率保留率為50%時,求出電纜在額定工作溫度下的電纜壽命,一方面也可直觀顯示絕緣材料性能受溫度和老化時間影響的下降趨勢。
聲明:
“基于微元化物理模型的電纜壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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