本發(fā)明提供一種電子產品在電壓應力作用下的小樣本試驗壽命預測方法,其包括以下步驟:S1對失效數(shù)據(jù)按照電壓應力水平分組并從小到大重排;S2依照矩模型得到威布爾壽命分布形式;S3得到等效威布爾壽命數(shù)據(jù);S4計算調協(xié)威布爾壽命分布;S5列出關注的信度并計算信度對應的分位值;S6得到各信度水平下電壓應力?壽命函數(shù);S7得到選定電壓應力水平下的威布爾壽命分位值;S8使用最小二乘模型得到選定電壓應力水平下的壽命分布。本發(fā)明根據(jù)不確定理論通過分布參數(shù)的估計、電子產品壽命數(shù)據(jù)擴充,修正分布參數(shù),最終得到電壓應力?壽命模型,解決了小樣本情況造成的威布爾分布參數(shù)估計不準確問題,提高了壽命評估的準確性和穩(wěn)定性。
聲明:
“電子產品在電壓應力作用下的小樣本試驗壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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