本發(fā)明公開了一種結(jié)合工藝及可靠性框圖的繼電器類單機貯存可靠性評估方法,所述方法將從廠家調(diào)研的工藝數(shù)據(jù)注入到所建立的繼電器有限元仿真模型中,得到其輸出特性初始分布特性;通過分析繼電器類單機實際出現(xiàn)的失效模式及失效機理,建立基于失效物理的退化模型,結(jié)合繼電器初始分布特性及加速貯存退化試驗實測數(shù)據(jù),得到具有分布特性的繼電器輸出特性退化模型;將失效閾值帶入繼電器輸出特性退化模型中,得到繼電器貯存可靠度數(shù)據(jù),并帶入所建立的繼電器類單機貯存可靠性框圖中,實現(xiàn)對繼電器類單機貯存可靠度的評估。本發(fā)明解決了小子樣問題下繼電器類單機貯存可靠性評估準(zhǔn)確度低的問題。
聲明:
“結(jié)合工藝及可靠性框圖的繼電器類單機貯存可靠性評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)