本發(fā)明公開了一種硬盤陣列掃描頻率計(jì)算方法，過程為：確定硬盤失效時(shí)間的概率分布函數(shù)；硬盤故障時(shí)，存儲(chǔ)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)丟失代價(jià)正比于故障開始到當(dāng)前的時(shí)間，比例系數(shù)為L(zhǎng)c，表示單位時(shí)間內(nèi)的數(shù)據(jù)丟失代價(jià)；確定硬盤的平均無故障時(shí)間MTBF值；硬盤掃描檢測(cè)時(shí)，時(shí)刻t付出代價(jià)的數(shù)學(xué)期望值；對(duì)于N個(gè)硬盤的RAID陣列，得到RAID位錯(cuò)率；得到單個(gè)RAID陣列組的失效率以及整個(gè)存儲(chǔ)系統(tǒng)的失效率；確定容單盤錯(cuò)存儲(chǔ)系統(tǒng)的掃描檢測(cè)次數(shù)，基于系統(tǒng)代價(jià)的最小化目標(biāo)得到硬盤陣列系統(tǒng)的掃描頻率需求。本發(fā)明綜合了硬盤掃描影響的各個(gè)因素，并對(duì)影響程度進(jìn)行了量化；面向最優(yōu)代價(jià)目標(biāo)，根據(jù)不同硬盤系統(tǒng)指標(biāo)評(píng)價(jià)確定掃描頻率的數(shù)值計(jì)算結(jié)果。