本發(fā)明提供提供了電子系統(tǒng)的剩余壽命評估方法、裝置和系統(tǒng)，其中，所述電子系統(tǒng)至少包括一個(gè)電子元器件，所述電子系統(tǒng)的剩余壽命評估方法包括如下步驟：S1，按照每個(gè)時(shí)間間隔采集所述電子系統(tǒng)的應(yīng)力信息，并對一個(gè)時(shí)間段內(nèi)的所述應(yīng)力信息數(shù)據(jù)匯總以獲得應(yīng)力因素；S2，基于應(yīng)力因素和失效率算法獲得所述系統(tǒng)的每個(gè)元器件的失效率，從而計(jì)算系統(tǒng)的失效率；S3，基于系統(tǒng)失效率和系統(tǒng)平均無故障時(shí)間獲得所述系統(tǒng)的可靠性壽命，以獲得所述時(shí)間段內(nèi)的系統(tǒng)累積損傷率；S4，基于所述系統(tǒng)的額定壽命或者疲勞壽命計(jì)算所述系統(tǒng)的剩余壽命。本發(fā)明可擴(kuò)展性好，造價(jià)低，不僅能夠?qū)崟r(shí)預(yù)測電子系統(tǒng)的剩余壽命，還能夠檢測電子系統(tǒng)工作中的意外情況。