本申請涉及一種設(shè)備壽命量化方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲介質(zhì)。該方法包括：計(jì)算機(jī)設(shè)備分別對設(shè)備中各器件的熱疲勞失效時(shí)刻數(shù)據(jù)和振動(dòng)疲勞失效時(shí)刻數(shù)據(jù)進(jìn)行累積損傷分析，對各器件的累積后的熱疲勞失效時(shí)刻數(shù)據(jù)和累積后的振動(dòng)疲勞失效時(shí)刻數(shù)據(jù)進(jìn)行故障分布擬合，得到各器件的熱疲勞壽命分布函數(shù)和振動(dòng)疲勞壽命分布函數(shù)；再對各器件的熱疲勞壽命分布函數(shù)和振動(dòng)疲勞壽命分布函數(shù)進(jìn)行故障融合，得到各器件的壽命概率密度函數(shù)；最后對設(shè)備中所有器件的壽命概率密度函數(shù)進(jìn)行故障融合，得到設(shè)備的壽命概率密度函數(shù)。本方法中，計(jì)算機(jī)設(shè)備可以根據(jù)設(shè)備的壽命概率密度函數(shù)獲取設(shè)備的壽命量化結(jié)果，從而確定該設(shè)備的互連失效分布情況以及可靠性。