本發(fā)明公開(kāi)一種參考單元替換方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，參考單元替換方法包括接收擦除操作指令；測(cè)量參考單元的輸出電流，當(dāng)所述參考單元的輸出電流與所述參考單元的設(shè)計(jì)電流不同，對(duì)所述參考單元執(zhí)行替換操作；根據(jù)所述擦除操作指令執(zhí)行擦除操作。本發(fā)明實(shí)施例中，當(dāng)接收到擦除操作指令，存儲(chǔ)芯片執(zhí)行擦除操作之前，對(duì)參考單元的進(jìn)行檢測(cè)，并對(duì)出現(xiàn)問(wèn)題的參考單元進(jìn)行替換，可以有效解決參考單元隨著存儲(chǔ)芯片的使用時(shí)間增長(zhǎng)而逐漸失效的問(wèn)題，提高存儲(chǔ)芯片的可靠性；另一方面，相對(duì)于讀寫(xiě)操作來(lái)說(shuō)，擦除操作花費(fèi)的時(shí)間較長(zhǎng)，因此選擇在擦除操作前進(jìn)行參考單元檢測(cè)，可以避免檢測(cè)過(guò)程對(duì)存儲(chǔ)芯片的讀寫(xiě)速度的影響。