本發(fā)明涉及基于二維信息熵金屬板帶表面缺陷提取方法,首先,對(duì)采集來(lái)的源圖像進(jìn)行高斯平滑;然后,對(duì)平滑后的圖像針對(duì)缺陷目標(biāo)進(jìn)行空間域的增強(qiáng);再用自適應(yīng)熵的方法對(duì)前面處理后的圖像進(jìn)行缺陷目標(biāo)分割;接著,形態(tài)學(xué)中的方法對(duì)分割后的二值圖像法進(jìn)行閉運(yùn)算,改善其連通性得到最終的缺陷圖像;缺陷定位精確、效率高且占用資源少,為后續(xù)檢測(cè)技術(shù)的精度提供了保證。本發(fā)明的方法簡(jiǎn)單穩(wěn)定可靠,有效解決了傳統(tǒng)基于灰度異常方法的板帶表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)在遇到大量良性缺陷及板型干擾時(shí)出現(xiàn)提取失效、易造成系統(tǒng)數(shù)據(jù)總線出現(xiàn)癱瘓等問(wèn)題,有效目標(biāo)提取率得到較大的增強(qiáng)。
聲明:
“基于二維信息熵金屬板帶表面缺陷提取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)