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芯片的篩選方法

1146   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 09:01:09
本發(fā)明提供一種芯片的篩選方法,包括:提供一晶圓,所述晶圓包括多個芯片,各個所述芯片包含多個存儲單元;向所述芯片的所有所述存儲單元寫入數(shù)據(jù)以設(shè)置第一測試背景,并在所述第一測試背景下獲取所述芯片的第一測試數(shù)據(jù);向所述芯片的所有所述存儲單元寫入數(shù)據(jù)以設(shè)置第二測試背景,并在所述第二測試背景下獲取所述芯片的第二測試數(shù)據(jù);基于所述第一測試數(shù)據(jù)及所述第二測試數(shù)據(jù),判斷所述芯片是否失效。通過本發(fā)明解決了現(xiàn)有的無法通過檢驗(yàn)存儲單元電壓VT最小值方法來篩查不合格芯片的問題。
聲明:
“芯片的篩選方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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