本發(fā)明公開了一種監(jiān)控閃存擦寫性能的方法,采用縮緊規(guī)格的方法進(jìn)行擦寫性能測試,包括如下步驟:(1)在擦寫性能測試程序中設(shè)立一個較嚴(yán)的規(guī)格,使其大于實(shí)際使用規(guī)格;(2)對每個測試對象記錄在步驟(1)設(shè)立的規(guī)格下擦寫1次時(shí)失效的擦寫次數(shù)和重復(fù)擦寫2次仍失效時(shí)的擦寫次數(shù);(3)計(jì)算每個測試對象在步驟(2)中兩個記錄的擦寫次數(shù)的比值,對該比值進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,用該比值來監(jiān)控擦寫性能。采用本發(fā)明方法,在保證擦寫性能監(jiān)控準(zhǔn)確性的同時(shí),能縮短擦寫性能監(jiān)控的測試時(shí)間。
聲明:
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