本發(fā)明實(shí)施例提供了一種校正溫度的確定方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)、電子裝置,所述方法包括:在預(yù)定環(huán)境溫度下,根據(jù)反射溫度確定待測(cè)黑體對(duì)應(yīng)的校正灰度值;根據(jù)紅外測(cè)量設(shè)備內(nèi)部的半導(dǎo)體制冷器TEC在室溫環(huán)境下顯示的溫度、TEC在預(yù)定環(huán)境溫度下顯示的溫度以及待測(cè)黑體在預(yù)定環(huán)境溫度下對(duì)應(yīng)的校正相鄰灰度差值,確定在預(yù)定環(huán)境溫度下待測(cè)黑體對(duì)應(yīng)的目標(biāo)灰度差值;在預(yù)定環(huán)境溫度下,根據(jù)紅外測(cè)量設(shè)備獲取的待測(cè)黑體的測(cè)量灰度值、待測(cè)黑體對(duì)應(yīng)的目標(biāo)灰度差值以及基準(zhǔn)溫度,確定待測(cè)黑體在預(yù)定環(huán)境溫度下對(duì)應(yīng)的校正溫度。解決了相關(guān)技術(shù)中在環(huán)境溫度變化較大時(shí)紅外測(cè)量設(shè)備中的標(biāo)定參數(shù)出現(xiàn)失常或失效導(dǎo)致溫度測(cè)量不準(zhǔn)確的問題。
聲明:
“校正溫度的確定方法及裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)、電子裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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