奧氏體不銹鋼敏化損傷測試分級方法及裝置 692     

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本發(fā)明公開一種奧氏體不銹鋼敏化損傷測試分級方法及裝置，涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，采用渦流進行損傷嚴重部位快速篩選分級以提高效率，再采用金相分析對較輕損傷進行測試和分級以保證精度，既利用渦流便捷快速的優(yōu)勢，又利用金相法彌補渦流法對較輕損傷不敏感的不足，實現(xiàn)對奧氏體不銹鋼敏化損傷進行快速且精準的測試和分級，非常適用于航空航天、核電、大型石油化工等行業(yè)領(lǐng)域中壓力容器、壓力管道等承壓設(shè)備的敏化損傷快速測試和分級，為設(shè)備的安全使用和延壽分析提供了技術(shù)依據(jù)。

測量非金屬板厚度的方法 1004     

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本發(fā)明公開了一種測量非金屬板厚度的方法,它適用于工程建筑領(lǐng)域或其他領(lǐng)域中非金屬板厚度的無損檢測。本發(fā)明的測厚原理基于在空間交變電磁場中,空間某點磁場強度(用該點線圈的感應(yīng)電壓U表示)隨該點距場源的距離H增大而單調(diào)衰減,用試驗標定的方法,建立表征感應(yīng)電壓U與距離H相關(guān)關(guān)系的數(shù)值表。測試時,發(fā)射線圈在非金屬板的一側(cè)產(chǎn)生交變磁場,在非金屬板另一側(cè)的接收線圈接收交變磁場信號,經(jīng)接收電路轉(zhuǎn)換成電壓信號U,通過查表在已標定的數(shù)組表中確定對應(yīng)的H值,即非金屬板厚度。全部過程可在單片機控制下自動完成。本原理簡單明確,經(jīng)濟實用,便于推廣應(yīng)用。

干式變壓器繞組實時溫度分析監(jiān)測裝置 749     

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本實用新型公開了一種干式變壓器繞組實時溫度分析監(jiān)測裝置，包括：紅外測溫傳感器對準干式變壓器高壓繞組，用于非接觸測量高壓繞組的溫度，紅外測溫傳感器溫度數(shù)據(jù)輸出端連接溫度變送系統(tǒng)溫度數(shù)據(jù)輸入端，溫度變送系統(tǒng)數(shù)據(jù)輸出端連接微控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)輸入端，所述鉑電阻緊貼放置于低壓繞組以及鐵心，用于接觸測量低壓繞組和鐵心的溫度，所述鉑電阻連接溫度變送系統(tǒng)，溫度變送系統(tǒng)的輸出端連接A/D轉(zhuǎn)換器輸入端，A/D轉(zhuǎn)換器輸出端連接微控制系統(tǒng)的溫度信號輸入端，所述微控制系統(tǒng)的信號輸出端連接顯示裝置。實現(xiàn)對干式變壓器繞組無損實時監(jiān)測溫度狀態(tài)，從而能夠通過檢測到的溫度實時數(shù)據(jù)對干式變壓器內(nèi)部材料進行判斷，無需將變壓器進行拆解。

用于測定聚合物中雜原子含量的樣品前處理方法及其應(yīng)用 918     

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本發(fā)明公開了一種用于測定聚合物材料中雜原子含量的樣品前處理方法。包括樣品制備、樣品消解和溶解等步驟，主要是將聚合物樣品在熔融的氫氧化鉀(或氫氧化鈉)中完全消解，然后用純水溶解并定容。經(jīng)過該樣品前處理后的檢測樣品可直接用于已有的雜原子含量測定方法(如離子色譜法、離子選擇電極法、電位滴定法等)中進行測定。本發(fā)明具有操作簡單、快速、低成本、待測物無損失、適用范圍廣等特點，可推廣應(yīng)用于測定聚合物材料中雜原子含量前的樣品前處理。

基于深度學(xué)習的平凸透鏡曲率半徑在線測量方法 747     

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本發(fā)明涉及一種基于深度學(xué)習的平凸透鏡曲率半徑在線測量方法，屬于光電測量技術(shù)領(lǐng)域。針對傳統(tǒng)曲率半徑檢測方法具有損傷性、易受環(huán)境影響、裝置調(diào)整復(fù)雜、價格昂貴等缺點，本方法基于相位恢復(fù)原理，建立了單平凸透鏡成像系統(tǒng)，揭示了透鏡曲率半徑與系統(tǒng)焦面、離焦面PSF兩幅圖像的關(guān)系。采用深度學(xué)習方法構(gòu)建平凸透鏡PSF圖像與曲率半徑誤差之間的非線性映射，實現(xiàn)透鏡曲率半徑的測量。使用標準透鏡標定焦面、離焦面的方法，使待測透鏡在標定面上產(chǎn)生數(shù)據(jù)集輸入神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，提高了探測精度。本方法無損傷性，對軟硬件環(huán)境要求不高，操作簡單，成本低、速度快，且精度高。

降低電場指紋法測試溫度誤差的裝置 1058     

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一種降低電場指紋法測試溫度誤差的裝置，屬于管道無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。包括內(nèi)部有介質(zhì)流過的待測管道（1）以及設(shè)置在待測管道（1）表面的參考板，其特征在于：在待測管道（1）的表面設(shè)置有運行補償裝置（2），參考板固定在運行補償裝置（2）表面；在運行補償裝置（2）的外殼上連接有使其內(nèi)部形成內(nèi)循環(huán)的介質(zhì)循環(huán)單元，在運行補償裝置（2）內(nèi)部設(shè)置有溫度補償單元，介質(zhì)循環(huán)單元和溫度補償單元由控制器實現(xiàn)控制。通過本實用新型的降低電場指紋法測試溫度誤差的裝置，通過參考板將溫度對待測管道的影響完全體現(xiàn)出來，實現(xiàn)了通過電場指紋法對待測管道腐蝕情況的精確判斷。

利用電噪聲測量齒輪嚙合側(cè)隙的裝置及方法 1192     

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本發(fā)明涉及一種利用電噪聲測量齒輪嚙合側(cè)隙的裝置及方法，屬于空間低速指向機構(gòu)的測試技術(shù)領(lǐng)域。該裝置將齒輪傳動組件的固定部分作為直流電傳輸回路的一端，齒輪傳動組件的轉(zhuǎn)動部分作為直流電傳輸回路的另一端，通過采集齒輪傳動時的電噪聲數(shù)值來折算其嚙合側(cè)隙。該裝置無需拆卸被測組件，可以推廣至其他導(dǎo)體構(gòu)成的齒輪傳動組件，實現(xiàn)實時無損檢測。目前，該裝置已經(jīng)應(yīng)用于太陽帆板驅(qū)動機構(gòu)的測試過程中。

用于測量熱障涂層系統(tǒng)表面熱應(yīng)力的原位裝置 1160     

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本發(fā)明公開了一種用于測量熱障涂層系統(tǒng)表面熱應(yīng)力的原位裝置，該裝置包括應(yīng)力測量儀(101)、基體(102)、粘結(jié)層(103)、氧化鋁薄膜(104)、陶瓷層(105)、加熱板(106)和固定板(107)；通過該裝置保證熱應(yīng)力測量實驗過程中可以改變熱障涂層系統(tǒng)溫度，無損傷檢測式樣升溫?保溫?降溫過程中的熱應(yīng)力，該裝置結(jié)構(gòu)簡單，操作方便。

用于現(xiàn)場電化學(xué)測試的電解槽 904     

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本實用新型公開了一種用于現(xiàn)場電化學(xué)測試的電解槽，它涉及汽輪機轉(zhuǎn)子老化無損檢測的電化學(xué)測試裝置。它包括蓋板、電解槽筒體、底板、密封圈、試樣托和系帶，電解槽筒體的上部蓋有蓋板，電解槽筒體的上部為圓形筒體，電解槽筒體的中部是倒錐形筒體，倒錐形容器的下方連接有一段圓形筒體，下部筒體的底部固定在一長條形可彎曲彈性底板上，電解槽筒體通過底板上的開孔與試樣或工件連通，底板的下表面連接有密封圈，底板通過螺栓固定有試樣托，底板的兩端連接有系帶，現(xiàn)場測試時電解槽通過系帶固定在被測工件上。本實用新型既能用于實驗室測量也能用于現(xiàn)場測量，適用性強，固定方便，牢固可靠，實用性強，易于推廣使用。

用激光掃描共聚焦顯微鏡測量表面粗糙度的方法 960     

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一種用激光掃描共聚焦顯微鏡測量表面粗糙度的方法，屬于金屬材料物理性能檢驗技術(shù)領(lǐng)域。該發(fā)明通過標準樣塊的測定和預(yù)測試樣的測定等技術(shù)步驟，解決傳統(tǒng)方法中存在的不能給出被測表面的3D形貌問題。優(yōu)點在于，實現(xiàn)非接觸、對表面無損傷、試樣放置不要求具有方向性，能清晰、直觀地顯示表面的3D圖像微觀形貌，特別是以簡單和可靠的方式進行標準樣塊的標定程序，對試樣測量結(jié)果具有一致性和可追溯性。

X射線衍射法殘余應(yīng)力測試定位裝置 899     

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本實用新型屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種X射線衍射殘余應(yīng)力測試定位裝置。目的是提供一種操作簡單、適用范圍大能夠?qū)崿F(xiàn)快速固定殘余應(yīng)力測試儀測試點的定位裝置。該定位裝置包括垂直放置的橫梁(4)與立柱(8)，在橫梁(4)端部設(shè)有托架(2)；立柱(8)底部與底架(11)連接；立柱(8)的頂部置有滑輪(5)，下部置有手輪(9)，鋼絲一端繞在手輪(9)上，另一端通過滑輪(5)與橫梁(4)連接。本定位裝置結(jié)構(gòu)簡單、操作方便，可以達到殘余應(yīng)力測試儀對測試點進行快速、準確定位的目的，特別是解決了大尺寸以及復(fù)雜零件測試點定位的問題。

基于低溫制冷機的高溫超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度測量裝置 906     

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本實用新型公開一種高溫超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度測量裝置，屬于超導(dǎo)電子學(xué)領(lǐng)域，通過將壓縮制冷機的制冷端伸入真空室內(nèi)，并在制冷端上安裝溫度傳感器與加熱器；溫度傳感器與加熱器與加熱器均與溫控儀相連；溫控儀與采集處理系統(tǒng)相連；從而通過在制冷端頂面上設(shè)置兩套可分別進行電輸運方法與交流磁化率方法測量超導(dǎo)材料高溫轉(zhuǎn)變溫度的測量裝置。本實用新型的優(yōu)點為：可實現(xiàn)電輸運方法與交流磁化率方法單獨或同時進行超導(dǎo)材料超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度的無損測量，且測量過程高效，測量結(jié)果準確、可靠，便于及時掌握測量情況，是對制備超導(dǎo)材料性能檢驗有一定的實用價值。

平板探測器及其輻射成像系統(tǒng) 1113     

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本實用新型公開了一種平板探測器，同時也公開了包括該平板探測器的輻射成像系統(tǒng)。該平板探測器包括閃爍體、CMOS圖像傳感器、信號處理模塊；其中，閃爍體接收輻射源產(chǎn)生的X射線，轉(zhuǎn)換為可見光；可見光由CMOS圖像傳感器轉(zhuǎn)換為電信號，信號處理模塊采集電信號并進行圖像信號處理。本實用新型所提供的平板探測器及其輻射成像系統(tǒng)采用CMOS工藝實現(xiàn)，具有所需X射線劑量低、數(shù)據(jù)動態(tài)范圍大、幀速率快及空間分辨率高等諸多優(yōu)點，可以應(yīng)用在醫(yī)療影像、工業(yè)無損檢測等領(lǐng)域。

用于測量鋼筋套筒灌漿飽滿度的探頭及方法 1155     

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本發(fā)明涉及一種用于測量鋼筋套筒灌漿飽滿度的探頭及方法。所述探頭主要包括由第一導(dǎo)體桿件的一端構(gòu)成的第一電極和由第二導(dǎo)體桿件的一端構(gòu)成的第二電極，第二導(dǎo)體桿件為中空結(jié)構(gòu)，第二導(dǎo)體桿件套在第一導(dǎo)體桿件外面。所述方法包括：將探頭置入套筒中；將探頭與電阻測量裝置連接，并測出電阻值；在灌漿的不同階段，根據(jù)求得的電阻率與空氣和流砂、濕砂、干砂的電阻率的接近程度確定灌漿飽滿度。本發(fā)明實現(xiàn)了無損傷飽滿度測量。本發(fā)明所述方法具有測量速度快、效率高、精度高、穩(wěn)定性好、成本低等優(yōu)點，為裝配式混凝土結(jié)構(gòu)施工質(zhì)量驗收工作提供了一套高效檢測方案。

深層土壤濕度微波遙感探測方法與裝置 950     

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本發(fā)明公開了一種深層土壤濕度微波遙感探測方法與裝置，涉及微波遙感技術(shù)，利用微波低頻段對物體的穿透性能，提出了深層土壤濕度微波遙感探測方法，并公開一種深層土壤濕度微波遙感探測裝置，測試土壤的后向散射系數(shù)，通過深層土壤散射模型和土壤的介電模型反演出不同深度的土壤濕度，形成測試區(qū)域土壤濕度分布的三維圖像。本發(fā)明遙感探測裝置，工作頻率為VHF/UHF頻段，可以實現(xiàn)非接觸式、無損地檢測不同類型土壤在0.1-10m深度的土壤介電常數(shù)和濕度參數(shù)。

寬波段共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置 795     

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本發(fā)明涉及一種寬波段共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置，屬于光學(xué)精密測量技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明采用黑體光源通過波長選通系統(tǒng)生成指定波長照明點光源，利用共焦光路對被測透鏡前后表面頂點進行層析定焦，測量得到被測透鏡光學(xué)厚度，通過光線追跡算法計算得到透鏡的元件折射率，實現(xiàn)可見到紅外寬波段范圍內(nèi)任意波長條件下的紅外透鏡元件折射的高精度非接觸測量。本發(fā)明無需對被測透鏡進行破壞性采樣，實現(xiàn)了可見到紅外任意波長條件下的透鏡的元件折射率無損直接測量，具有測量過程便捷，測量精度高、抗環(huán)境干擾能力強的優(yōu)點，可為透鏡的元件折射率檢測提供一個全新的有效技術(shù)途徑。

超導(dǎo)弱磁信號探測磁力儀 923     

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本發(fā)明公開了超導(dǎo)弱磁信號探測磁力儀，包括超導(dǎo)量子干涉器(SQUID)、無磁杜瓦、立體三軸定位儀、磁通鎖定環(huán)、微控制處理器、電源供電單元、數(shù)據(jù)信號處理系統(tǒng)和主機，以低溫超導(dǎo)量子干涉器替代傳統(tǒng)的感應(yīng)線圈作為磁力儀探頭，提高磁力儀的靈敏度與測量深度、精度。本發(fā)明是一項國際上最新的弱磁信號探測設(shè)備，相比于傳統(tǒng)的電子磁力儀，超導(dǎo)弱磁信號探測磁力儀的分辨率高、精度高、高智能化、高穩(wěn)定性，除用于物探工作外，還可用于醫(yī)學(xué)上的心、腦磁測量；工程上的無損檢測等。

鐵礦粉連晶性能的評價及測量方法 728     

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本發(fā)明提供了一種鐵礦粉連晶性能的評價及測量方法，涉及鐵礦粉造塊技術(shù)領(lǐng)域，能夠無損檢測焙燒后鐵礦粉的連晶強度，且不受礦粉顆粒及制樣過程壓力的影響；該方法步驟包括：S1、用鐵礦粉進行壓塊操作，得到若干壓塊坯體；S2、取兩個及以上所述壓塊坯體，疊置設(shè)置，并進行軸向壓制，使相鄰壓塊坯體的界面緊密接觸，得到團塊；S3、對所述團塊進行焙燒，得到團塊焙燒體；S4、測量所述團塊焙燒體的界面固結(jié)強度，根據(jù)所述界面固結(jié)強度表征鐵礦粉連晶性能。本發(fā)明提供的技術(shù)方案適用于鐵礦粉連晶性能評測的過程中。

玉米抗蠐螬評價生物測定方法 754     

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本發(fā)明涉及一種玉米抗蠐螬評價生物測定方法。本發(fā)明方法可以在實驗室內(nèi)測定玉米材料對蠐螬的抗蟲性，能夠在實驗室條件下，測試地下害蟲蠐螬對待測植物根系的危害情況，用以評價待測植物對于地下害蟲的抗性，在測試過程中可隨時進行無損植株移除、移栽和試蟲接種、結(jié)果檢查等操作，突破了植物抗地下害蟲室內(nèi)生測的瓶頸，極大的提高了植物抗地下害蟲評價的工作效率。

基于反射太赫茲光譜的介質(zhì)厚度預(yù)測、評價方法及系統(tǒng) 891     

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本發(fā)明提供一種基于反射太赫茲光譜的介質(zhì)厚度預(yù)測、評價方法及系統(tǒng)，預(yù)測方法包括：獲取待測區(qū)域的太赫茲反射信號并進行預(yù)處理；將所述預(yù)處理后的待測區(qū)域的太赫茲反射信號輸入厚度預(yù)測模型，獲得厚度預(yù)測模型輸出的所述待測區(qū)域的厚度值。評價方法包括：將厚度預(yù)測結(jié)果與利用時間延遲原理計算得到的厚度結(jié)果進行比較，進一步驗證預(yù)測模型的準確性和適用性。本發(fā)明提供的預(yù)測方法只需考慮參考波形和已知參考厚度，建立兩者的擬合模型，避免了因介質(zhì)厚度較薄使信號混疊和因太赫茲波傳輸色散使波形展寬引起的厚度計算誤差，為光學(xué)薄樣品和厚樣品的厚度測量提供了新思路，對結(jié)構(gòu)復(fù)雜的工業(yè)部件的厚度無損檢測提供了新的方向。

具有探頭識別功能的測厚儀 1066     

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本實用新型涉及工業(yè)無損檢測領(lǐng)域,為了解決現(xiàn)有技術(shù)中無法獲得不同探頭準確的非線性數(shù)據(jù),測量不夠準確的不足,提出了一種具有探頭識別功能的測厚儀,包括探頭和測厚儀計算端,其特征在于所述探頭還包括一存儲芯片,該存儲芯片的數(shù)據(jù)引腳和所述測厚儀計算端的數(shù)據(jù)輸入接口相連接,將所述存儲芯片中存儲的探頭相關(guān)數(shù)據(jù)傳送給所述測厚儀計算端。本實用新型的有益效果在于,當測厚儀使用該探頭測量被測物體厚度時可以從探頭的存儲芯片中直接獲得非線性校準數(shù)據(jù)和ID用于修正測量結(jié)果,以得到更加準確的測量值,本實用新型結(jié)構(gòu)簡單,最后獲得的測量值較現(xiàn)有產(chǎn)品更加準確。

監(jiān)測晶片生長薄膜特性的裝置及其用途 901     

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本發(fā)明公開了一種監(jiān)測晶片生長薄膜特性的裝置及其用途，屬于半導(dǎo)體材料無損檢測領(lǐng)域。該裝置包括第一激光光源、第二激光光源、第一二相色鏡、分束鏡、第二二相色鏡、第一探測器、第二探測器、位置探測器、腔室、狹縫窗口、樣品托盤和轉(zhuǎn)軸。該裝置及其用途能夠集成實現(xiàn)待測晶片反射率、溫度和應(yīng)力三個特性參數(shù)集成監(jiān)測。

基于二端子阻抗測量模式的四端子電阻抗層析成像方法 961     

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本發(fā)明公開了一種基于二端子阻抗測量模式的四端子電阻抗層析成像方法,屬于電學(xué)無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。所述方法包括如下步驟：建立電阻抗層析成像傳感器的有限元模型，計算相鄰激勵、相對激勵或者對角線激勵模式下的四端子靈敏度矩陣；繼電器雙T型多通道切換模塊選通傳感器的電極，進行二端子阻抗測量；將二端子阻抗值轉(zhuǎn)換成相應(yīng)激勵模式下的四端子阻抗值；求解敏感場內(nèi)電導(dǎo)率差異分布，并進行圖像重建。本發(fā)明適用于非侵入式電阻抗層析成像技術(shù)，尤其適用于四端子阻抗測量方式不滿足應(yīng)用需求或者不具備四端子阻抗測量儀器的情形。本發(fā)明可有效提高所重建圖像的對比度和分辨率，加快成像速度。

單細胞陣列微芯片及其制造、電測量和電穿孔方法 680     

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本發(fā)明公開了一種單細胞陣列電測量微芯片，包括基底、陣列式的多個定位微電極、陣列式的多個電測量微電極對和樣品池微腔體，本發(fā)明還公開了單細胞陣列電測量微芯片的制造方法、以及利用該微芯片對細胞進行電測量和電穿孔的方法。本發(fā)明將細胞定位與細胞電測量和電穿孔相結(jié)合，采用無標記、無損傷的微操縱、定位和參數(shù)測量分析技術(shù)，實現(xiàn)單細胞陣列、多模式的原位在線測量和分析；由于定位后的細胞位置固定，可有效提高細胞的電學(xué)檢測精度，并可提升細胞的電穿孔效率、降低細胞死亡率。本發(fā)明還將自動化控制技術(shù)引入細胞微操縱和電測量中，通過電測量反饋進行細胞定位的自動控制，最終能夠?qū)崿F(xiàn)快速、精確和多模式的細胞自動化測量和分析。

超聲波監(jiān)測管道輸送膏體充填料漿濃度的方法 1000     

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本發(fā)明涉及一種超聲波監(jiān)測管道輸送膏體充填料漿濃度的方法，該系統(tǒng)由探頭控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、數(shù)據(jù)接收系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)組成。在運輸管道6兩側(cè)用扣環(huán)5將聲波發(fā)射器4和聲波接收器8分別放置在兩對應(yīng)測點處，并用螺栓9擰緊固定。聲波測試數(shù)據(jù)通過聲波測試線3傳輸?shù)匠暡y試儀2中，經(jīng)聲波數(shù)據(jù)線10傳輸?shù)綌?shù)顯儀1，數(shù)顯儀1上屏幕顯示管道膏體充填料漿的濃度。本發(fā)明的優(yōu)點是采用無損檢測技術(shù)，操作簡便、安全、快速，能實時監(jiān)測管道膏體充填料漿的濃度，克服了傳統(tǒng)監(jiān)測方法僅通過制漿濃度直接推斷出管路膏體充填漿體濃度，而忽略了膏體充填料漿在礦井管道運輸過程中其濃度受環(huán)境溫度影響的缺點。

巖體劣化發(fā)育特征的測定方法、裝置及存儲介質(zhì) 1099     

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本申請?zhí)岢鲆环N巖體劣化發(fā)育特征的測定方法、裝置及存儲介質(zhì)，包括獲取目標區(qū)域的劣化影響范圍內(nèi)的巖樣的第一參考劣化特征參數(shù)，以及巖樣的不同劣化階段的第二參考劣化特征參數(shù)；控制目標區(qū)域內(nèi)的發(fā)射器發(fā)射不同的發(fā)射頻率的震動波，基于震動波形成的傳播路徑，反演獲取巖體內(nèi)任一點的目標縱波波速和目標橫波波速，進而獲取巖體內(nèi)任一點的第一劣化特征參數(shù)；基于巖體內(nèi)任一點的第一劣化特征參數(shù)與巖樣的第一參考劣化特征參數(shù)和第二參考劣化特征參數(shù)，分別確定巖體內(nèi)任一點的劣化程度特征參數(shù)以及目標劣化階段，并生成巖體劣化發(fā)育分布圖。本申請中，實現(xiàn)對于巖體的無損檢測，簡化了巖體的劣化發(fā)育特征的測定過程，提升了測定精度以及測定效率。

可重復(fù)安裝利用式深井地應(yīng)力監(jiān)測探頭 848     

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本發(fā)明提供了一種可重復(fù)安裝利用式深井地應(yīng)力監(jiān)測探頭，涉及地應(yīng)力監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域。該可重復(fù)安裝利用式深井地應(yīng)力監(jiān)測探頭包括探頭筒體以及內(nèi)置于探頭筒體中的驅(qū)動電機、傳動機構(gòu)和應(yīng)力測量機構(gòu)；傳動機構(gòu)包括依次嚙合的蝸桿、蝸輪和絲桿；驅(qū)動電機與蝸桿連接；應(yīng)力測量機構(gòu)貫穿探頭筒體的側(cè)壁且與絲桿連接，絲桿用于驅(qū)動應(yīng)力測量機構(gòu)沿探頭筒體的直徑方向移動。本發(fā)明的深井地應(yīng)力監(jiān)測探頭，通過蝸桿、蝸輪和絲桿組成的傳動機構(gòu)，能夠?qū)⒂糜趧討B(tài)監(jiān)測地應(yīng)力的應(yīng)力測量機構(gòu)從探頭筒體中推出，并且能夠?qū)?yīng)力測量機構(gòu)收回至探頭筒體中，利于地應(yīng)力計在使用過程中的無損檢修和二次安裝利用。

分光瞳激光共焦拉曼光譜測試方法與裝置 784     

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本發(fā)明屬于顯微光譜成像技術(shù)領(lǐng)域，將共焦顯微技術(shù)與拉曼光譜探測技術(shù)相結(jié)合，涉及一種分光瞳激光共焦拉曼光譜測試方法及裝置。利用共焦拉曼光譜探測中遺棄的瑞利散射光構(gòu)建分光瞳共焦顯微成像系統(tǒng)，實現(xiàn)樣品三維幾何位置的高分辨成像與探測；利用分光瞳共焦顯微成像系統(tǒng)的“極值點”來控制光譜探測系統(tǒng)能精確捕獲物鏡聚焦點處激發(fā)的拉曼光譜信息，繼而實現(xiàn)“圖譜合一”的分光瞳共焦拉曼光譜高空間分辨成像與探測。本發(fā)明為微區(qū)三維幾何位置與光譜的高空間分辨探測提供新的技術(shù)途徑，可廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、石油化工、地質(zhì)、藥物、食品、刑偵和珠寶檢定等領(lǐng)域，可對樣品進行無損傷鑒定和深度光譜分析。

寬波段差動共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置 1029     

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本發(fā)明涉及一種寬波段差動共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置，屬于光學(xué)精密測量技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明采用黑體光源通過波長選通系統(tǒng)生成指定波長照明點光源，利用差動共焦光路對被測透鏡前后表面頂點進行層析定焦，測量得到被測透鏡光學(xué)厚度，通過光線追跡算法計算得到透鏡的元件折射率，實現(xiàn)可見到紅外寬波段范圍內(nèi)任意波長條件下的紅外透鏡元件折射的高精度非接觸測量。本發(fā)明無需對被測透鏡進行破壞性采樣，首次實現(xiàn)了可見到紅外任意波長條件下的透鏡的元件折射率無損直接測量，具有測量過程便捷，測量精度高、抗環(huán)境干擾能力強的優(yōu)點，可為透鏡的元件折射率檢測提供一個全新的有效技術(shù)途徑。

各向異性材料縱波聲速的測量方法 969     

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本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，涉及對采用超聲探頭測量各向異性材料縱波聲速方法的改進。其特征在于，采用相控陣超聲線陣探頭進行測量，測量的步驟如下：超聲回波數(shù)據(jù)采集及存儲；獲取超聲回波信號的底波傳播時間數(shù)據(jù)組；計算底波傳播時間平均值數(shù)據(jù)組；計算聲波最短路徑傳播角度數(shù)據(jù)組和聲波最短傳播路徑數(shù)據(jù)組；計算各聲波最短路徑傳播角度下所對應(yīng)的縱波聲速數(shù)據(jù)組；構(gòu)造縱波傳播速度V與聲波傳播角度Θ的解析函數(shù)。本發(fā)明提出了一種改進的各向異性材料縱波聲速的測量方法，簡化了測量步驟，縮短了測量周期，提高了測量精度。