本發(fā)明涉及一種寬波段差動共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置,屬于光學(xué)精密測量技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明采用黑體光源通過波長選通系統(tǒng)生成指定波長照明點(diǎn)光源,利用差動共焦光路對被測透鏡前后表面頂點(diǎn)進(jìn)行層析定焦,測量得到被測透鏡光學(xué)厚度,通過光線追跡算法計算得到透鏡的元件折射率,實現(xiàn)可見到紅外寬波段范圍內(nèi)任意波長條件下的紅外透鏡元件折射的高精度非接觸測量。本發(fā)明無需對被測透鏡進(jìn)行破壞性采樣,首次實現(xiàn)了可見到紅外任意波長條件下的透鏡的元件折射率無損直接測量,具有測量過程便捷,測量精度高、抗環(huán)境干擾能力強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn),可為透鏡的元件折射率檢測提供一個全新的有效技術(shù)途徑。
聲明:
“寬波段差動共焦紅外透鏡元件折射率測量方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)