本發(fā)明公開了一種地質(zhì)調(diào)查儀器,包括:外殼,外殼設(shè)有容納腔以及與容納腔連通的開口;剖面繪制方向表盤,剖面繪制方向表盤水平設(shè)置在開口處,剖面繪制方向表盤內(nèi)設(shè)有剖面繪制方向指針,剖面繪制方向指針能夠在剖面繪制方向表盤內(nèi)沿水平方向旋轉(zhuǎn);以及地層產(chǎn)狀表盤,地層產(chǎn)狀表盤設(shè)置在容納腔內(nèi),地層產(chǎn)狀表盤內(nèi)設(shè)有與剖面繪制方向指針相交的地層產(chǎn)狀指針,地層產(chǎn)狀指針在地層產(chǎn)狀表盤內(nèi)能夠沿豎直方向以及水平方向旋轉(zhuǎn)。上述的地質(zhì)調(diào)查儀器能夠直觀地獲取剖面的繪制方向和地層產(chǎn)狀之間的幾何關(guān)系。
聲明:
“地質(zhì)調(diào)查儀器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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