本發(fā)明公開了一種納米尺度分析地質(zhì)樣品晶體取向與相分布的方法,涉及地質(zhì)檢測技術領域,包括以下步驟:a1、制備電子束可穿透厚度的樣品;a2、在STEM模式下拍攝感興趣區(qū)域的形貌圖;a3、以獲取的形貌圖為導航,并在STEM模式下進行二維掃描納米束電子衍射數(shù)據(jù)采集、a4、通過計算機軟件對采集的數(shù)據(jù)進行分析處理,進而在納米尺度獲得樣品的晶體取向和相分布圖。本發(fā)明在已有透射電鏡不增加額外附件的基礎上實現(xiàn)了納米尺度地質(zhì)樣品晶體取向與相分布分析,具有實施成本低、效率高、可操作性和重復性強等特點,適合于在固體地球科學研究領域的廣泛推廣。
聲明:
“納米尺度分析地質(zhì)樣品晶體取向與相分布的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)