本發(fā)明公開一種利用地質(zhì)雷達探測盾構(gòu)管片壁后注漿質(zhì)量的方法,首先在盾構(gòu)管片的內(nèi)壁放置一無磁性的墊塊,然后將地質(zhì)雷達放置于所述的墊塊上進行探測,所述墊塊和盾構(gòu)管片相互接觸的表面的弧形形狀一致,所述墊塊的厚度為15~30cm,本發(fā)明能夠解決盾構(gòu)管片的雷達二次反射波信號與壁后注漿層反射波信號重疊而不能有效探測的問題。
聲明:
“利用地質(zhì)雷達探測盾構(gòu)管片壁后注漿質(zhì)量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)