本發(fā)明公布了一種利用X射線熒光光譜分析地質(zhì)中痕量元素的方法,屬于化學(xué)分析技術(shù)領(lǐng)域。通過利用熔融法將地質(zhì)樣品和標(biāo)準(zhǔn)品制備成玻璃片,然后利用標(biāo)準(zhǔn)品制定校準(zhǔn)曲線,最后利用X-熒光光譜儀分析樣品中Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu、Se、Ge的含量。該方法具有制樣簡單、操作方便、測量結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“利用X-熒光光譜分析地質(zhì)樣品中痕量元素的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)