為了能在勘探時準(zhǔn)確而簡單地檢測出金剛面,可將巖面試樣破碎成粉末顆粒,并用處理透射過顆粒薄層的X射線的圖象的方式,來自動地識別出粉末顆粒中是否含有金剛石顆粒(30)??捎脤⑦@一圖象與透射過顆粒薄層的另一幅可見光的圖象進行比較的方式來處理圖象。
聲明:
“檢測存在于礦石試樣中的金剛石” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)