一種方法可以包括接收地質(zhì)地層中的鉆孔的中子數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)。至少部分地基于中子數(shù)據(jù),確定地質(zhì)地層的層的遷移長度值;至少部分地基于遷移長度值和密度數(shù)據(jù)來對(duì)至少所述層進(jìn)行正演建模;以及至少部分地基于正演建模輸出該層的建模中子數(shù)據(jù)。
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“地質(zhì)地層中子孔隙率系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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