本發(fā)明公開(kāi)使用組合的X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)/X射線熒光(XRF)系統(tǒng)對(duì)樣本(104)進(jìn)行相關(guān)性評(píng)估,還公開(kāi)一種使用X射線CT和XRF分析樣本(104)的方法。CT/XRF系統(tǒng)(10)包括用于獲取體積信息的X射線CT子系統(tǒng)(100)和用于獲取元素組成信息的XRF子系統(tǒng)(102)。幾何校準(zhǔn)被執(zhí)行于XRF子系統(tǒng)(102)和X射線CT子系統(tǒng)(100)之間,從而X射線CT獲取期間定義的感興趣區(qū)域能被XRF子系統(tǒng)(102)恢復(fù),以便隨后的XRF的獲取。系統(tǒng)(10)結(jié)合了X射線CT的亞微米空間分辨率三維成像能力和共焦XRF的元素組成分析,以提供樣本(104)ppm級(jí)靈敏度的三維元素組成分析。這適用于許多科研和工業(yè)應(yīng)用,其典型例子就是
采礦工業(yè)中破碎及研磨原礦和
浮選尾礦中的貴金屬顆粒元素識(shí)別。
聲明:
“組合共焦X射線熒光和X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描的系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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