本發(fā)明公開了一種地質(zhì)勘探光電測量裝置,涉及光電測量技術(shù)領(lǐng)域,主要是為了解決現(xiàn)有的地質(zhì)勘探光電測量裝置存在實(shí)用性差和使用不便的問題,包括固定測量機(jī)構(gòu)、活動(dòng)測量機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)和調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu),固定測量機(jī)構(gòu)包括第一相機(jī)組和承載部,調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)中的粗調(diào)組件和微調(diào)組件之間相互配合使用的設(shè)計(jì),能夠較為精確地調(diào)節(jié)活動(dòng)測量機(jī)構(gòu)中的第二相機(jī)組相較于承載部的傾斜角度,從而能夠較為精確的測量出被測物表面上的不同角度的特征處的相關(guān)參數(shù),并且微調(diào)組件中的滑移件通過移動(dòng)能夠帶動(dòng)第四傳動(dòng)齒輪與旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)上的傳動(dòng)組件連接,進(jìn)而帶動(dòng)旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)和活動(dòng)測量機(jī)構(gòu)作周轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng),從而能夠測量到被測量物周圈的參數(shù),具備實(shí)用性強(qiáng)和使用方便的特點(diǎn)。
聲明:
“地質(zhì)勘探光電測量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)