本發(fā)明公開了一種測定氧化鉬中鉬含量的X熒光熔片制備及分析方法,涉及冶金成分測定分析技術(shù)領(lǐng)域,加入抑制劑,在抑制劑的作用下,低溫預(yù)熔,然后在高溫狀態(tài)下將熔劑與預(yù)熔后的產(chǎn)物熔制成穩(wěn)定、均一、透明的玻璃片。采用儀器分析替代化學(xué)分析,解決了化學(xué)分析污染大、周期長、人員素質(zhì)要求過高等問題,整個(gè)分析周期短、操作步驟少,實(shí)現(xiàn)了快速、準(zhǔn)確、環(huán)保地測定??赏茝V運(yùn)用于冶金生產(chǎn)企業(yè)及鋼鐵企業(yè)的生產(chǎn)過程控制以及使用前驗(yàn)收檢驗(yàn)等,大大促進(jìn)了冶金分析領(lǐng)域儀器分析自動化的提高。
聲明:
“測定氧化鉬中鉬含量的X熒光熔片制備及分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)